Définition du Microscope à force atomique : Le microscope à force atomique (AFM pour atomic force microscope) est un type de microscope à sonde locale permettant de visualiser la topographie de la surface d'un échantillon. Inventé en 1985, par G.Binnig, F.Quate et C. Gerber, ce type de microscopie est essentiellement basé sur l'analyse d'un objet point par point au moyen d'un balayage via une sonde locale, assimilable à une pointe effilée.
En gros, une "cartographie 3D" de la surface de ce qu'on veut observer.
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Quand on veut, qu'on sait un peu comment faire et avec pas mal d'astuce on arrive à faire pas mal de choses ;)